Responsable: Ing. Ma. Julia Yañez
Presta servicios a la comunidad científica-tecnológica del país, organismos públicos, instituciones de salud y sector productivo. Tanto en las áreas de ciencias de la vida como en ciencia de los materiales.
Desde el año 2009 el servicio se encuentra adherido al Sistema Nacional de Microscopía (SNM) en el marco del Programa Organización de Sistemas Nacionales de Grandes Instrumentos y Bases de Datos (MINCyT).
Realiza:
– Estudios de topografía superficial
– Estudios de ultraestructura animal y vegetal
– Nanoestructuras
– Microanálisis de elementos químicos
– Identificación de fases
– Obtención de cortes ultrafinos
– Conteo de partículas
– Determinación del tamaño de partícula
– Caracterización de partículas
– Procesamiento y análisis de imágenes digitales
– Fotografía científica
Cuenta para ello con el siguiente equipamiento:
– Microscopio Electrónico de Barrido (VP y BEI)
– Microscopio Electrónico de Transmisión
– Microscopio Electrónico de Barrido con sistema de microanálisis
– Ultramicrótomo
– Evaporadora de metales en plasma de Argón (Au y C)
– Secador por punto crítico
SERVICIOS TECNOLÓGICOS DE ALTO NIVEL
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Microscopia Electrónica de Transmision (TEM)
• Estudios de ultraestructura celular (animal y vegetal)
• Estudios de virus y bacterias
• Caracterización de sistemas particulados
• Estudios de tamaño de poro y de pared en materiales mesoporosos
• Identificación de fases
• Caracterización de nanoestructuras poliméricas
• Determinación de tamaño promedio de partícula en catalizadores soportados
Microscopia Electrónica de Barrido (SEM) y microsanalisis de rayos x por energia dispersiva (EDS)
Estudios SEM y SEM-EDS de muestras provenientes de Cs. de la Vida y Cs. de los materiales
SEM: Caracterización de superficies: morfología, topografía, rugosidad, porosidad, imperfecciones.
EDS: Microanálisis cuali y cuantitativo. Espectro, mapeo, barrido de línea
Distribución estadística de tamaños de partícula
Análisis químico elemental y morfológico de productos y materias primas industriales.
Determinación de espesores de recubrimientos
Caracterización de depósitos en membranas y filtros
Procesamiento de muestras
TEM
• Fijación, Deshidratación, Infiltración en resina
• Ultramicrotomía (UM) Cortes gruesos y ultradelgados
• Contraste positivo y negativo
• Mortereado
• Suspensión
• Cast – film
SEM
• Fijación, Deshidratación
• Secado por punto crítico (CPD)
• Suspensión
• Espolvoreo
• Fractura criogénica
• Crio-cortes
• Montaje
• Metalización ( C, Au, Au-Pd)
Procesamiento y análisis de imágenes
EN CONSTRUCCIÓN
Formación de RRHH
CURSOS
• Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
• Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)
• Análisis y Medición de material particulado por Microscopia Electrónica
PASANTÍAS
• Orientadas a cada solicitud
DOCENCIA
• Posgrado UNS
• Pregrado UNS y UTN
• Instituto Superior de Formación Docente
Equipamiento
Microscopio Electrónico de Transmisión (TEM)
JEOL 100 CX II CCDGATANES1000W Erlangshen
Microscopio electrónico de barrido (SEM)
Sistema microanálisis de rayos x por dispersión de energía (EDS) EDAX DX4
Microscopio electrónico de barrido de presión variable (SEM-VP) LEO EVO 40-XVP. Detectores SE, SEVP y BSE.
Sistema de Microanálisis por energía dispersiva (EDS) Oxford X-max 50Contactos
Equipo de trabajo
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María Julia Yañez
Ing. Química
Ana Julia Avila
Doctora
Carina Cano
Técnica Química
Carlos Jones
Fotógrafo
Cecilia Gutierrez Ayesta
Magister
