Los días 22 y 23 de octubre se realizará el Taller de Microscopía Electrónica de Barrido 2009 (2009 Workshop on Scanning Electron Microscopy (SEM)), organizado por la firma Carl Zeiss.

El mismo se llevará a cabo en las instalaciones del Centro Científico Tecnológico-CONICET Bahía Blanca, en el Servicio de Microscopía Electrónica de la UAT.

En el mismo se abordarán diversos temas de interés para microscopistas, tales como las últimas tendencias en SEM de presión variable y las aplicaciones de la microscopía electrónica de barrido relacionadas con las áreas de ciencias de la vida y de los materiales.

Las conferencias ofrecidas a la comunidad científica en general, son:

• SEM: News and trends:  a cargo del Dr. A. Casares, de Carl Zeiss, Alemania. Jueves 22 de octubre, de 11:30  a 13:00 hs.

• VP SEM: Principles and applications: a cargo del Dr. M. Ramírez, de Carl Zeiss, México. Viernes 23 de octubre, 9.30 a 10.30 hs.

Esta última será seguida de un ciclo de ponencias sobre aplicaciones de SEM a cargo de  especialistas  en microscopía electrónica argentinos provenientes de diversos centros y universidades del país.

Los interesados en asistir deben confirmar su presencia a los siguientes contactos: Esta dirección electrónica esta protegida contra spam bots. Necesita activar JavaScript para visualizarla   o Esta dirección electrónica esta protegida contra spam bots. Necesita activar JavaScript para visualizarla hasta el 15 de octubre.

Descargar la Ficha de Registración.